[发明专利]对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置在审
| 申请号： | 201711243042.8 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN107862155A | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | 耿介 | 申请（专利权）人： | 青岛海信电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 杨贝贝,刘芳 |
| 地址： | 266100 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置。本发明对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法，包括从芯片的统一电源管理格式UPF文件中提取用于描述电源策略的UPF指令；根据所述UPF指令确定电源状态表，所述电源状态表包括多个电源状态，每个电源状态由各个电源域的目标开关状态组成；根据所述电源状态表生成功能覆盖率模型对应的文件；使用逻辑设计的层次结构中各个电源域的实际开关状态实例化所述功能覆盖率模型对应的文件，对所述芯片进行功能覆盖率模型验证，并生成所述芯片的功能覆盖率报告。本发明实施例可以实现无需人工参与，自动化生成功能覆盖率模型，有效提高验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 进行 功能 覆盖率 模型 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法，其特征在于，包括：从芯片的统一电源管理格式UPF文件中提取用于描述电源策略的UPF指令；根据所述UPF指令确定电源状态表，所述电源状态表包括多个电源状态，每个电源状态由各个电源域的目标开关状态组成；根据所述电源状态表生成功能覆盖率模型对应的文件；使用逻辑设计的层次结构中各个电源域的实际开关状态实例化所述功能覆盖率模型对应的文件，对所述芯片进行功能覆盖率模型验证，并生成所述芯片的功能覆盖率报告；其中，所述逻辑设计的层次结构是根据所述芯片的寄存器传输级RTL文件确定的。
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