[发明专利]主观式验光装置在审
| 申请号： | 201711248158.0 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108209854A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 平山幸人;铃木陵司;柴田一徳 | 申请（专利权）人： | 尼德克株式会社 |
| 主分类号： | A61B3/032 | 分类号： | A61B3/032 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 高培培;戚传江 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种主观式验光装置，其抑制视网膜照度的下降，并以接近于自然观察的状态进行主观式检查。主观式验光装置具备：投影光学系统，具有射出视标光束的视标呈现部，并将从视标呈现部射出的视标光束朝向被检眼投影；壳体，收纳投影光学系统；以及发光部，是与视标呈现部不同的构件，并使视标呈现部的周边进行面发光。而且，主观式验光装置具备眼屈光度测定单元，该眼屈光度测定单元改变从壳体的内部向壳体的外部射出的视标光束的光学特性。 | ||
| 搜索关键词： | 视标 主观式 验光装置 壳体 射出 屈光度 投影光学系统 测定单元 视网膜照度 光学特性 收纳 发光部 面发光 投影 观察 外部 检查 | ||
【主权项】：
1.一种主观式验光装置，具备：投影光学系统，具有射出视标光束的视标呈现部，并将从所述视标呈现部射出的视标光束朝向被检眼投影；壳体，收纳所述投影光学系统；以及发光部，是与所述视标呈现部不同的构件，并使所述视标呈现部的周边进行面发光。
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