[发明专利]X射线成像中的统计分析在审
| 申请号： | 201711248860.7 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108318513A | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | W.K.富拉加;A.M.金斯顿;G.R.姆耶斯;M.帕兹雷斯;T.K.瓦斯洛特 | 申请（专利权）人： | FEI公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N23/203;G01N23/22 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;陈岚 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种使用X射线来分析样本的方法，该方法包括以下步骤：‑ 用输入X射线照射样本；‑使用检测器来检测响应于所述照射从该样本放射出的输出X射线的通量，该方法进一步包括以下步骤：‑ 使用检测器来截获所述通量的至少一部分以便产生该样本的至少一部分的像素化图像Ij的集合{Ij}，藉此，该集合{Ij}的势为M>1。‑ 针对每个图像Ij中的每个像素pi，确定累积信号强度Sij，从而产生相关联的信号强度集合{Sij}。‑使用集合{Sij}来计算以下值：▪每个像素位置i的平均信号强度S；▪ 每个像素位置i的S中的方差σ2S.‑使用这些值S和σ2S来产生每个像素的平均X射线光子能量E的图。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 集合 检测器 像素位置 通量 像素 照射 像素化图像 输入X射线 累积信号 平均信号 统计分析 方差 截获 放射 关联 图像 输出 响应 检测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种使用X射线来分析样本的方法，该方法包括以下步骤：‑ 用输入X射线照射样本；‑ 使用检测器来检测响应于所述照射从该样本放射出的输出X射线的通量，其特征在于，该方法包括以下步骤：‑ 使用检测器来截获所述通量的至少一部分以便产生该样本的至少一部分的像素化图像Ij的集合{Ij}，藉此，该集合{Ij}的势为M > 1；‑ 针对每个图像Ij中的每个像素pi，确定累积信号强度Sij，从而产生相关联的信号强度集合{Sij}；‑ 使用集合{Sij}来计算以下值：▪ 每个像素位置i的平均信号强度S；▪ 每个像素位置i的S中的方差σ2S.‑ 使用这些值S和σ2S来产生每个像素的平均X射线光子能量E的图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司，未经FEI公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711248860.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
