[发明专利]胚胎电子系统数学描述方法有效
| 申请号： | 201711248951.0 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN107895090B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 蔡金燕;孟亚峰;王涛;朱赛;王利伟;王博 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军陆军工程大学 |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06N3/00;G06F111/10 |
| 代理公司： | 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128 | 代理人： | 王占华 |
| 地址： | 050000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种胚胎电子系统数学描述方法，涉及具备自修复能力的新型仿生硬件技术领域。所述方法包括：建立胚胎电子系统的功能函数、性能函数和状态函数；利用功能函数来描述胚胎电子系统的功能信息，利用性能函数来描述胚胎电子系统的性能信息，利用状态函数描述胚胎电子系统的工作状态信息；利用功能函数来判断胚胎电子系统能否正常工作，利用性能函数来评估胚胎电子系统的自修复能力和硬件资源消耗，利用状态函数来分析胚胎电子系统的工作状态。所述方法能够准确的对系统的功能、性能和工作状态进行描述，将胚胎电子系统从电子领域转化到数学领域，能够从数学的角度对胚胎电子系统开展理论研究。 | ||
| 搜索关键词： | 胚胎 电子 系统 数学 描述 方法 | ||
【主权项】：
一种胚胎电子系统数学描述方法，其特征在于包括：建立胚胎电子系统的功能函数、性能函数和状态函数；利用功能函数来描述胚胎电子系统的功能信息，利用性能函数来描述胚胎电子系统的性能信息，利用状态函数描述胚胎电子系统的工作状态信息；利用功能函数来判断胚胎电子系统能否正常工作，利用性能函数来评估胚胎电子系统的自修复能力和硬件资源消耗，利用状态函数来分析胚胎电子系统的工作状态。
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