[发明专利]一种超黑材料反射比测量装置及方法在审
| 申请号： | 201711250418.8 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108152251A | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 冯国进;吴厚平;林延东 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超黑材料反射比测量装置及测量方法。所述装置包括：光源、声光调制器、透镜、U型光陷阱、积分球、探测器、宽动态范围信号采集器和计算机，其中：所述U型光陷阱放置于所述透镜和所述积分球之间，由一个反射镜和一个反向的U型吸光筒组成，用于吸收所述光源发出的光。本发明提供的反射比测量装置及方法实现超低反射比的准确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量装置 反射比 透镜 光陷阱 黑材料 积分球 光源 声光调制器 超低反射 范围信号 准确测量 采集器 反射镜 宽动态 吸光筒 探测器 测量 计算机 吸收 | ||
【主权项】：
一种超黑材料反射比测量装置，其特征在于，包括：光源、声光调制器、透镜、U型光陷阱、积分球、探测器、宽动态范围信号采集器和计算机，其中：所述U型光陷阱放置于所述透镜和所述积分球之间，由一个反射镜和一个反向的U型吸光筒组成，用于吸收所述光源发出的光。
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