[发明专利]一种利用3D深度测量的亮度分布测量系统及方法有效
| 申请号： | 201711252506.1 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108010071B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 易斌;甄江龙;袁韬;杨静;叶盛;毛龙波;米红菊;王海龙 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军后勤工程学院 |
| 主分类号： | G06T7/50 | 分类号： | G06T7/50;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 | 代理人： | 赵红霞 |
| 地址： | 401311 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明属于照明质量检测技术领域，公开了一种利用3D深度测量的亮度分布测量系统及方法，设置有：标定物、亮度分布测量装置、后台处理设备、云台、数据传输线；被测物上安装有标定块，测量装置通过数据传输线连接后台处理设备，测量装置上安装有云台。本发明采用3D深度测量单元获得被测物体的深度信息，利用面阵图像传感器成像设备获取亮度信息，通过软件处理对虚光效应加以修正，获得景物亮度分布，从而降低测量难度和成本；且较现有的成像式亮度分布测量方法相比，通过利用景物深度信息对虚光效应加以校正，极大的提高了测量准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 深度 测量 亮度 分布 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用3D深度测量的亮度分布测量方法，其特征在于，所述利用3D深度测量的亮度分布测量方法导出经过校准的图像数据；提取测量区域对应的图像计算测量数据；测量数据提取对应的测量区域的景物深度以及成像亮度测量单元光轴对应的景物深度，计算对应的虚光效应校正系数；从亮度图像测量数据与深度测量数据中提取标定物光源对应的亮度测量结果，根据相应的曲线拟合计算求得校准系数。
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