[发明专利]一种用于平面度测量时的高度补偿方法在审
申请号: | 201711257692.8 | 申请日: | 2017-12-04 |
公开(公告)号: | CN109870132A | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 班猛飞;张晋 | 申请(专利权)人: | 深圳市盛世智能装备有限公司 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市宝安区石岩街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种用于平面度测量时的高度补偿方法,用于在平面测量时对测量设备的自身的平面度的补偿,所述测量设备包括X轴,Y轴,测量头,大理石平台,所述X轴和Y轴组成十字滑台,测量头固定于十字滑台上,其具体的测量方法为:a.将大理石平台置于测量头正下方,十字滑台带着测量头在大理石平台上取n个点(n≥2),获得测量头至大理石平台上n个点的距离,其距离值为X1,X2,……Xn;b.取走大理石平台,将待测产品正下方,十字滑台带着测量头在待测产品上取n个点(n≥2),获得测量头至待测产品上n个点的距离,其距离值为Y1,Y2,……Yn;c.将两次测得的值进行求差,获得差值X1‑Y1,X2‑Y2,……Xn‑Yn;d.对获得差值用最小二乘法求得待测产品的平面度。 | ||
搜索关键词: | 测量头 大理石平台 待测产品 十字滑台 平面度测量 测量设备 高度补偿 平面度 最小二乘法 平面测量 求差 测量 | ||
【主权项】:
1.一种用于平面度测量时的高度补偿方法,用于在平面测量时对测量设备的自身的平面度的补偿,所述测量设备包括X轴(2),Y轴(3),测量头(4),所述X轴(2)和Y轴(3)组成十字滑台(6),测量头(4)固定于十字滑台(6)上,其特征在于:还包括大理石平台(1),其具体的测量方法为:a.将大理石平台(1)置于测量头(4)正下方,十字滑台(6)带着测量头(4)在大理石平台(1)上取n个点(n≥2),获得测量头(4)至大理石平台(1)上n个点的距离,其距离值为X1,X2,……Xn;b.取走大理石平台(1),将待测产品(5)正下方,十字滑台(6)带着测量头(4)在待测产品(5)上取n个点(n≥2),获得测量头(4)至待测产品(5)上n个点的距离,其距离值为Y1,Y2,……Yn;c.将两次测得的值进行求差,获得差值X1‑Y1,X2‑Y2,……Xn‑Yn;d.对获得差值用最小二乘法求得待测产品(5)的平面度。
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