[发明专利]电容结构、包括电容结构的半导体管芯及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201711259226.3 申请日: 2017-12-04
公开(公告)号: CN109427753B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 林均颖;徐英杰;郑新立;杨锦煌;郭建利 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 冯志云;张福根
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开实施例提供一种电容结构及形成上述电容结构的方法,包括提供具有二维沟槽阵列的基板的掺杂区。数个区段定义于上述二维沟槽阵列中。这些区段的每一者具有沿着上述基板延伸的数个凹槽所形成的阵列,且这些区段相对于上述二维沟槽阵列的中心旋转对称。第一导电层位于上述表面、上述凹槽的底部以及侧壁上,且第一导电层以第一介电层与上述基板绝缘。第二导电层位于第一导电层上,且第二导电层以第二介电层与第一导电层绝缘。第一与第二接点各自连接至第一导电层与第二导电层的露出的顶表面。第三接点连接至上述电容结构的局部区域中的基板。
搜索关键词: 电容 结构 包括 半导体 管芯 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种电容结构的形成方法,包括:形成二维的沟槽阵列于一基板中,其中该二维的沟槽阵列具有定义于其中的数个区段,其中所述多个区段相对于该二维的沟槽阵列的一中心旋转对称,其中所述多个区段的每一者包括具有沿着该基板的一表面延伸一预定长度的数个凹槽的阵列;沉积一第一介电层于所述多个凹槽的一底部区域与侧壁上以及该基板的该表面上;沉积一第一厚度的第一导电层于该第一介电层上,其中该第一厚度为均匀的;沉积一第二介电层于该第一导电层上;沉积一第二厚度的第二导电层于该第二介电层上,其中该第二厚度为均匀的;移除未在所述多个凹槽中的该第二导电层以及该第二介电层的数个部分;以及移除位于该表面上且未在所述多个凹槽的一局部区域中的该第一导电层以及该第一介电层的数个部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711259226.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top