[发明专利]一种大直径薄壁箱体的形变测量装置

摘要

一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，涉及结构测量领域；一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，包括薄壁贮箱、工艺环、支撑旋转装置、机床、刀架基座、刀架、刀具、支撑架、激光传感器组件；工艺环包覆在薄壁贮箱的轴向两端的外壁；支撑旋转装置分别设置在两端工艺环的底部；机床竖直设置在薄壁贮箱的一侧；刀架基座水平固定安装在机床的中部；刀架同轴固定安装在刀架基座的一端，且指向薄壁贮箱；刀具固定安装在刀架的轴向一端，且刀具与薄壁贮箱的外壁接触；支撑架固定安装在基座的上表面；激光传感器组件固定安装在支撑架的上表面，且指向薄壁贮箱外壁；本发明实现了大直径薄壁贮箱的柱段面形变测量。

主权项

一种大直径薄壁箱体的形变测量装置，其特征在于：包括薄壁贮箱(1)、工艺环(2)、支撑旋转装置(3)、机床(4)、刀架基座(5)、刀架(6)、刀具(7)、支撑架(8)、激光传感器组件(9)和立柱(10)；其中，薄壁贮箱(1)为圆筒状结构；薄壁贮箱(1)水平放置；工艺环(2)包覆在薄壁贮箱(1)的轴向两端的外壁；支撑旋转装置(3)分别设置在两端工艺环(2)的底部；机床(4)竖直设置在薄壁贮箱(1)的一侧；刀架基座(5)水平固定安装在机床(4)的中部；刀架(6)同轴固定安装在刀架基座(5)的一端，且指向薄壁贮箱(1)；刀具(7)固定安装在刀架(6)的轴向一端，且刀具(7)与薄壁贮箱(1)的外壁接触；立柱(10)固定安装在刀架基座(5)的上表面；支撑架(8)固定安装在立柱(10)的上表面；激光传感器组件(9)固定安装在支撑架(8)的上表面，且指向薄壁贮箱(1)外壁。