[发明专利]一种PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法

摘要

本发明公开了一种PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法，包括：1)使用叶绿素荧光仪测试OJIP曲线；2)使用函数拟合OJIP曲线，并求所拟合曲线的曲率；3)根据曲率的极值，确定PSII叶绿素荧光的J特征点和I特征点；本发明自动跟踪不同生理和实验条件下叶子的PSII叶绿素荧光的J特征点和I特征点，考虑到了植物品种和实验条件的变化，测得的特征荧光值比传统方法的测定值的分类能力更好。在不同的实验条件下，所确定的特征点出现的时间具有很强的分类能力。 1

主权项

1.一种PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法，其特征在于包括：

1)使用叶绿素荧光仪测试OJIP曲线；

2)使用函数拟合OJIP曲线，并求所拟合曲线的曲率；

3)根据曲率的极值，确定PSII叶绿素荧光的J特征点和I特征点。

2.如权利要求1所述的PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法，其特征在于：在步骤2)中，使用多项式拟合OJIP曲线。

3.如权利要求2所述的PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法，其特征在于：在步骤2)中，使用如下函数拟合：

式(1)中，y是叶绿素荧光强度，x是时间的对数，N是拟合多项式的阶数，a_n(n＝0...N)是系数，n是整数。

4.如权利要求1所述的PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法，其特征在于：在步骤3)中确定曲率的具体方法是：求拟合曲线的一阶导数；求拟合曲线的二阶导数；求拟合曲线的曲率。

5.如权利要求3所述的PSII叶绿素荧光J特征点和I特征点定位方法，其特征在于：在步骤3)中，确定曲率的具体方法是：

求y对x的一阶导数为：

求y对x的二阶导数为：

曲率为：