[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201711276419.X 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108231896B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 张家维;许琼文;翁煜庭 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 冯志云;张福根
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体装置包括:基底;从基底突出的鳍结构;覆盖由鳍结构所形成的沟道区的栅极绝缘层;覆盖该栅极绝缘层的栅极电极层;及设置于鳍结构的相对侧的隔离层。鳍结构包括依序设置在基底上的底部、颈部及顶部。颈部的宽度小于底部的宽度以及顶部的宽度。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:一基底;一鳍结构,从设置于该基底上方的一隔离绝缘层突出;一栅极绝缘层,覆盖由该鳍结构所形成的一沟道区;及一栅极电极层,覆盖该栅极绝缘层;其中该鳍结构包括依序设置在该基底上的一底部、一颈部及一顶部;且该颈部的宽度小于该底部的宽度以及该顶部的宽度。
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