[发明专利]一种高海情下目标与海面复合缩比模拟测试方法在审
申请号: | 201711276668.9 | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN108051793A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 戴飞;何鸿飞;张润俊 | 申请(专利权)人: | 上海无线电设备研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 朱成之 |
地址: | 200090 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种高海情下目标与海面复合缩比模拟测试方法,通过电磁散射测量系统分别测试海杂波上方被测目标、散射强度已知的标准体目标的复合散射信号,处理得到各自对应的散射回波测试值,用来计算与全尺寸状态下的海面目标对应的散射强度值。本发明通过计算合适的缩比系数,采用合适的缩比测试目标,按照特定的状态开展缩比测试,通过数据处理获取全尺寸状态的测试数据。本发明采用目标缩比与海面缩比相结合的方式获取高海情下目标与海面复合缩比测试数据,替代传统的采用全尺寸目标在海上实测获取数据的方式,解决海上实测困难大,测试状态难以定量表述的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 高海情下 目标 海面 复合 模拟 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高海情下目标与海面复合缩比模拟测试方法,其特征在于,通过电磁散射测量系统测试海杂波上方被测目标的复合散射信号,处理得到与所述被测目标对应的散射回波测试值σs ;通过电磁散射测量系统测试海杂波上方散射强度已知的标准体目标的复合散射信号,处理得到与所述标准体目标对应的散射回波测试值σD ,所述标准体目标的散射截面为σ0 ;对缩比测试结果进行处理,获取与全尺寸状态下的海面目标对应的散射强度值σ=σs -σD +σ0 +20*log10 (p),p是缩比系数。
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