[发明专利]用于测量气浮系统中气膜各种参数的测量装置

摘要

本发明涉及用于测量气浮系统中气膜各种参数的测量装置。包括二维滑动工作台、支架和底座；二维滑动工作台包括电机、纵向滑板、横向滑板和工作面板；二维滑动工作台安装在支架上，工作面板的工作面上设有微位移传感器、压力传感器、温度传感器、薄片振动传感器和薄片；在电机的作用下实现工作面板沿Z方向的移动；纵向滑板在横向滑板上实现沿X方向的移动；支架在底板上实现沿Y方向的移动；测量时，被测的测量气浮系统位于底座的支撑块上，且被测的测量气浮系统的气浮板的顶面对应着工作面板的工作面。本发明实现了气膜流场复杂三维流动各处的压力、振动、温度的测量，以及不同气膜厚度气膜流场的各参数测量问题。

主权项

1.用于测量气浮系统中气膜各种参数的测量装置，其特征在于：包括二维滑动工作台（2）、支架（3）和底座（1）；/n所述二维滑动工作台（2）包括电机（201）、纵向滑板（202）、横向滑板（203）和固定板（204），纵向滑板（202）在横向滑板（203）上实现沿X方向的移动；所述电机（201）设于纵向滑板（202）的上端，测量浮板（5）设于纵向滑板（202）的下端，在电机（201）的作用下实现测量浮板（5）沿Z方向的上下移动；所述测量浮板（5）的工作面（7）上设有微位移传感器（6）、压力传感器（11）、温度传感器（12）、薄片振动传感器（4）和薄片（13）；/n所述支架（3）包括直立的两根支杆和一根X方向的横向支杆，且横向支杆连接着两根支杆的上端；所述二维滑动工作台（2）设于支架（3）的横向支杆上；/n所述底座（1）包括底板和两块以上的支撑块（101），两块以上的支撑块（101）均匀布置设于底板的中部；支架（3）的两根支杆的下端分别滑动设于底板的两侧，实现支架（3）在底板上沿Y方向的移动；所述测量浮板（5）平行于底板；/n测量时，被测的测量气浮系统位于两块以上的支撑块（101）上，且被测的测量气浮系统的上浮板（20）的顶面对应着测量浮板（5）的工作面。/n