[发明专利]一种超高声速二维等离子体鞘套的测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201711279106.X 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108037173B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 贾洁姝;梁子长;何鸿飞;许勇刚;郭良帅 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 周乃鑫;朱成之
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种超高声速二维等离子体鞘套的测试系统及方法,用来测量超高声速等离子体鞘套的电磁散射参数。系统包括:等离子体发生器,天线、矢量网络分析仪,程控电源系统和等离子体密度诊断系统;将模拟超高声速等离子体鞘套的等离子体发生器放置在转台上,在发生器一侧放置1‑8GHz天线,利用矢量网络分析仪对天线进行校准,通过端口对天线的发射和接收信号进行记录和处理,得到散射参数。利用光谱仪对等离子体发生器内产生的等离子体进行诊断,通过计算从而控制等离子体相关重要参数。本发明弥补了超高声速二维等离子体鞘套参数测量的空白,为研究等离子体鞘套电磁仿真提供实验依据,为探究及解决飞行器的通讯“黑障”问题奠定基础。
搜索关键词: 一种 超高 声速 二维 等离子体 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种超高声速二维等离子体鞘套的测试系统,其特征在于,包含等离子体发生器,其中设有金属钝锥体,外部设有层叠结构的多个等离子体管,各自通过低压汞蒸气放电来产生特定浓度的等离子体,以模拟超高声速等离子体鞘套密度的梯度分布。
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