[发明专利]一种凹槽阳极肖特基二极管的制备方法在审
申请号: | 201711280649.3 | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN108091566A | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 程哲;张连;张韵 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/872 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种凹槽阳极肖特基二极管的制备方法,包括:提供半导体外延片;在半导体外延片上制作硬掩膜层;在硬掩膜层上制作掩膜层;以掩膜层为掩膜刻蚀硬掩膜层,图形化硬掩膜层;去除掩膜层露出图形化的硬掩膜层;对露出图形化的硬掩膜层的半导体外延片进行器件间台面隔离;在半导体外延片的异质结外延层表面的阳极区域刻蚀该异质结外延层形成阳极凹槽,之后去除光刻胶和硬掩膜层;在半导体外延片的异质结外延层表面的阴极区域形成层阴极金属。本发明利用纳米压印技术或铺聚苯乙烯球技术实现纳米级阳极凹槽,从而制备同时具有低开启电压、低导通电阻、高饱和电流等良好正向导通特性与低漏电、高击穿电压等良好反向关断特性的肖特基二极管。 | ||
搜索关键词: | 硬掩膜层 半导体外延片 肖特基二极管 异质结外延 掩膜层 制备 阳极 阳极凹槽 图形化 刻蚀 去除 图形化硬掩膜层 纳米压印技术 正向导通特性 低导通电阻 高击穿电压 聚苯乙烯球 技术实现 开启电压 阳极区域 阴极金属 阴极区域 漏电 台面 高饱和 光刻胶 纳米级 关断 掩膜 制作 隔离 | ||
【主权项】:
1.一种凹槽阳极肖特基二极管的制备方法,其中,该方法包括:提供一具有异质结外延层表面的半导体外延片;在该半导体外延片上制作硬掩膜层;在该硬掩膜层上通过纳米压印或聚苯乙烯球制作掩膜层;以掩膜层为掩膜刻蚀硬掩膜层,图形化该硬掩膜层;去除通过纳米压印或聚苯乙烯球制作的掩膜层,露出图形化的硬掩膜层;对露出图形化的硬掩膜层的半导体外延片进行器件间台面隔离;在半导体外延片的异质结外延层表面的阳极区域通过光刻刻蚀该异质结外延层,形成阳极凹槽,之后去除光刻胶和硬掩膜层;在半导体外延片的异质结外延层表面的阴极区域形成层阴极金属,在异质结外延层表面的阳极凹槽上形成阳极金属。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造