[发明专利]基于石墨烯量子点的荧光淬灭法对植物根表吸附杂环多环芳香烃的原位活体定量分析方法有效

专利信息
申请号: 201711283749.1 申请日: 2017-12-07
公开(公告)号: CN108020533B 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 李锐龙;王英辉;王少鹏;张琳琳;薛保铭;来朝帅 申请(专利权)人: 广西大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 王闯
地址: 530000 广西壮族*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明提供了基于石墨烯量子点的荧光淬灭法对植物根表吸附杂环多环芳香烃的原位活体定量分析方法。本发明方法能够有效避免激光诱导纳秒时间分辨法(LITRF)的紫外光在测定植物根表皮吸附PAHs时引起的光损伤,并实现对于吸附于植物根表皮N/O/S杂环多环芳烃的原位活体定量测定;同时,本发明方法的灵敏度高于传统的双光子激光共聚焦荧光显微法、固体表面荧光光谱法和光纤荧光法,能够与激光诱导纳秒时间分辨荧光光谱法达到相同数量级。
搜索关键词: 基于 石墨 量子 荧光 淬灭法 植物 吸附 杂环多环 芳香烃 原位 活体 定量分析 方法
【主权项】:
1.一种基于石墨烯量子点的荧光淬灭法对植物根表吸附杂环多环芳香烃的原位活体定量分析方法,其特征在于,包括如下步骤:/n(a)将模型植物的根部清洗后干燥,浸没于石墨烯量子点溶液中;取出后,选取特定植物根区域,在表皮涂覆杂环多环芳香烃溶液,待溶液挥发后,进行荧光光谱检测,得出荧光淬灭常数,并建立荧光淬灭常数与吸附于植物根表皮的杂环多环芳香烃浓度的标准曲线;/n(b)将待检测植物根部清洗后干燥,浸没于石墨烯量子点溶液中,然后选取与模型植物相同的植物根区域进行荧光光谱检测,得出荧光淬灭常数,并根据标准曲线得出吸附于待检测植物根表皮的杂环多环芳香烃浓度;/n步骤(a)中,所述模型植物为在无污染基质中生长的植物;/n步骤(a)中,所述清洗为分别采用自来水和超纯水对模型植物的根部进行清洗;/n和/或,步骤(b)中,所述清洗为分别采用自来水和超纯水对待检测植物的根部进行清洗;/n步骤(a)中,所述特定植物根区域包括分生区和伸长区;/n步骤(a)中,石墨烯量子点的最大荧光激发波长和发射波长分别为350 nm和462 nm;/n和/或,步骤(b)中石墨烯量子点的最大荧光激发波长和发射波长分别为350 nm和462nm。/n
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