[发明专利]一种材料表面硬度的测量方法及测量装置在审
| 申请号： | 201711284327.6 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN107907531A | 公开（公告）日： | 2018-04-13 |
| 发明（设计）人： | 邹林;王颂;李锐海;王希林 | 申请（专利权）人： | 南方电网科学研究院有限责任公司;清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 510663 广东省广州市萝岗区科*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种材料表面硬度的测量方法及测量装置，涉及材料硬度测量技术领域，为解决现有的材料硬度测量不方便、测量时间慢以及测量精度受测量者的经验和技术水平制约的问题而发明。该材料表面硬度的测量方法，包括以下步骤S1、用第一脉冲激光照射第一材料的表面，获取第一材料的激光等离子体光谱；S2、从激光等离子体光谱中获得第一分析元素的原子光谱，根据第一分析元素的原子光谱计算出激光等离子体温度，其中，第一分析元素为第一材料组成元素中的一种；S3、根据与第一材料相同的材料的表面硬度与激光等离子体温度之间的函数关系确定第一材料的表面硬度。本发明可用于材料表面硬度的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 表面 硬度 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种材料表面硬度的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、用第一脉冲激光照射第一材料的表面，获取所述第一材料的激光等离子体光谱；S2、从所述激光等离子体光谱中获得第一分析元素的原子光谱，根据所述第一分析元素的原子光谱计算出激光等离子体温度，其中，第一分析元素为所述第一材料组成元素中的一种；S3、根据与所述第一材料相同的材料的表面硬度与激光等离子体温度之间的函数关系确定所述第一材料的表面硬度。
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