[发明专利]多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法有效
| 申请号： | 201711287877.3 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN109901044B | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 胡幸 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 许志勇;王宁 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器电性连接，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器形成各自的扫描链，控制器分别进行各自扫描链预设值的取得并生成差分测试数据，再推送差分测试数据至各自的扫描链以进行差分测试，借此可以达成提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的技术功效。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 中央 处理 单元 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板，所述主电路板具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连连接器以及第一控制器连接器，每一个第一中央处理单元与所述第一超级通道互连连接器其中之一电性连接；至少一次级电路板，所述次级电路板具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器，每一个第二中央处理单元与所述第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，所述第二超级通道互连连接器对应插接于所述第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的所述第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的所述第二超级通道互连连接器形成扫描链；以及控制器，所述控制器通过所述第一控制器连接器与所述主电路板形成电性连接，所述控制器通过所述第二控制器连接器与所述次级电路板形成电性连接，所述控制器用以执行下列步骤：所述控制器分别取得所述扫描链的预设值；所述控制器依据所述扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；所述控制器通过所述第二控制器连接器推送所述差分测试数据至所述第二中央处理单元以由所述扫描链推送至所述第一中央处理单元进行差分测试，以通过所述第一控制器连接器从所述第一中央处理单元接收结果数据；以及所述控制器依据所述差分测试数据与所述结果数据判断差分测试结果。
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