[发明专利]一种傅里叶变换红外光谱原位漫反射谱图的三级校正方法

摘要

本发明公开了一种傅里叶变换红外光谱原位漫反射谱图的三级校正方法，适用于固体粉末样品表面基团分布的定性对比和定量分析。首先以2000cm‑1为界将谱图分段，并将3900‑4000cm‑1和1980‑2000cm‑1两个无基团吸收峰波数范围内测试谱线视为基线，在两段谱图内分别予以扣除；其次以两个温度基线波数点处吸收峰强度随温度的原位变化情况作为升温影响下的基线漂移并在各特征波数下分别予以扣除；最后通过乘谱运算使多谱图初始吸光强度保持一致。本方法能够准确地校正红外原位漫反射谱图中的基线漂移和初始吸光强度差异，避免红外光散射、温度变化等因素对测试精度的影响，从而获得更加准确的定性对比和定量分析结果。

主权项

1.一种傅里叶变换红外光谱原位漫反射谱图的三级校正方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

(1)在2000‑2050cm^‑1波数范围内取一波数点A，将傅里叶红外光谱原位漫反射实时测定的三维红外谱图分成两段谱图，这里取波数点2000cm^‑1，得到400‑2000cm^‑1和2000‑4000cm^‑1两段谱图；

(2)将步骤(1)所得两段谱图的两端进行平直，促使两端无吸收峰区域内的基线保持平直；

(3)将步骤(2)所得三维谱图转化为吸光度谱图，并分别进行自动基线校正；

(4)将步骤(3)校正后的吸光度三维谱图转换为Kubelka‑Munk三维谱图，完成三维红外谱图随波数变化的基线漂移校正；

(5)将步骤(4)所得校正后2000‑4000cm^‑1和400‑2000cm^‑1波数范围的三维谱图，分别取无吸收峰的3900‑4000cm^‑1和1980‑2000cm^‑1波数范围内的一个温度基线波数点B点和C点，从三维谱图中截取得到该波数点在红外测试过程中，随温度升高Kubelka‑Munk吸光强度的变化规律即为该波数范围内基线随温度升高的漂移情况；

(6)在2000‑4000cm^‑1和400‑2000cm^‑1波数段内的特征峰峰强原位演变谱线中，分别扣除波数点B、C处基线的温度漂移，准确得到各吸收基团所在波数随温度变化的曲线，完成各特征基团所在波数谱线随温度变化的基线漂移校正；

(7)经步骤(1)‑(6)得到相应波数下特征基团随温度变化的规律，由于不同实验样品表面平整度存在客观差异，导致相同或不同实验条件下，特征基团随温度变化规律的初始Kubelka‑Munk吸光强度存在差异；通过乘谱方法，以初始吸光强度较低谱图为基准，以初始吸光强度值之比为乘谱系数，得到初始吸光强度一致条件下的谱图，完成初始吸光强度差异校正，以进行同一样品在不同试验条件下的谱图定性对比分析。

2.根据权利要求1所述的一种傅里叶变换红外光谱原位漫反射谱图的三级校正方法，其特征在于：所述的波数点A取于2000‑2050cm^‑1波数范围内。

3.根据权利要求1所述的一种傅里叶变换红外光谱原位漫反射谱图的三级校正方法，其特征在于：所述的温度基线波数点B点和C点分别取于3900‑4000cm^‑1和1980‑2000cm^‑1波数范围内。