[发明专利]一种测试PCIE卡热插拔功能的测试方法在审
| 申请号： | 201711302963.7 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108052428A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 孙炳亮 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263;G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 张亮 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及计算机领域，特别涉及一种PCIE卡热插拔功能的测试方法，该测试方法通过软件模拟来测试热插拔流程，减少物理插拔给连接器带来的伤害。通过该测试方案可以收集热插拔寄存器相关寄存器，利用脚本进行热插拔测试，可以在任何时间完成测试，不需要物理插拔，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 pcie 卡热插拔 功能 方法 | ||
【主权项】：
1.一种PCIE卡热插拔功能的测试方法，其特征在于：利用主板中的BMC模块给系统下发命令，通过软件模拟热插拔测试流程，来测试热插拔功能。
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