[发明专利]一种半导体制冷片的制冷量测试装置在审
| 申请号： | 201711307828.1 | 申请日： | 2017-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109900504A | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 黄莉萍 | 申请（专利权）人： | 绍兴中普防雷科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00;G01N25/20 |
| 代理公司： | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226 | 代理人： | 韩敏 |
| 地址： | 312500 浙江省绍*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头。本发明所述的半导体制冷片的制冷量测试装置具有以下优势：本发明根据需要进行调整，使用方便，结构更加牢固，结构简单，便于拆装，使用寿命更长。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体制冷片 制冷量测试 测试机构 中间腔 筒型通道 侧板 温度检测探头 制冷剂 热电阻装置 便于拆装 螺栓固定 使用寿命 对称 | ||
【主权项】：
1.一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头。
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