[发明专利]一种复杂曲面编织预制体的厚度测量方法

摘要

本发明提供了一种复杂曲面编织预制体的厚度测量方法，步骤包括：三维激光扫描设备的现场调试准备；将三维激光扫描设备以及抽真空平台的位置相对固定，再安装预制体模具，对模具基座所在平面以及三维激光扫描设备的坐标进行校准；扫描获得支撑模上表面点云；在支撑模上表面放置待测预制体；在模具基座上覆盖真空膜，进行抽真空；在达到预设真空度后，扫描获得真空膜上表面点云；将真空膜上表面点云与支撑模上表面点云进行测量偏差操作，获得待测预制体在预设真空度下的测量厚度值。该厚度测量方法采用抽真空厚度测量方法测量复杂曲面编织预制体厚度，对预制体无任何损伤，适用于多种形状编织预制体的厚度测量。

主权项

1.一种复杂曲面编织预制体的厚度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，三维激光扫描设备的现场调试准备；步骤2，将三维激光扫描设备以及抽真空平台的位置相对固定，再在抽真空平台上安装预制体模具，预制体模具由模具基座以及设置在模具基座上的支撑模构成，对模具基座所在平面以及三维激光扫描设备的坐标进行校准；步骤3，利用三维激光扫描设备对位置固定的支撑模上表面进行扫描，获得由各个坐标点构成的支撑模上表面点云；步骤4，在支撑模上表面放置待测预制体，并使待测预制体下表面与支撑模上表面贴合，且二者的边缘对齐；步骤5，在模具基座上覆盖真空膜，支撑模和待测预制体均位于真空膜下方，真空膜的四周密封在模具基座上，将真空膜的抽气接口通过管路连接真空泵，再启动真空泵进行抽真空；步骤6，在抽真空达到预设真空度后，保持预设真空度3～5min，利用三维激光扫描设备对持续抽真空状态下的真空膜上表面进行扫描，获得由各个坐标点构成的真空膜上表面点云；步骤7，将真空膜上表面点云与支撑模上表面点云进行测量偏差操作，获得各个测量点处压缩待测预制体和真空膜的整体厚度值δ，则待测预制体在预设真空度下的测量厚度值为δ‑δ′，其中δ′为真空膜的厚度。