[发明专利]正电子湮没寿命谱测量方法和系统有效
| 申请号： | 201711310498.1 | 申请日： | 2017-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN108107465B | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 王宝义;韩振杰;刘福雁;况鹏;张鹏;曹兴忠;章志明;魏龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01N23/00 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及核谱学技术领域，公开正电子湮没寿命谱测量方法。该方法包括：接收第一判选信号和第二判选信号通过幅值判别得到第一起始信号和第二起始信号；将第一起始信号与第二起始信号进行或运算生成触发信号；响应触发信号在设定时间内接收第一探测信号和第二探测信号；判断第一探测信号的幅值及第二探测信号的幅值与第一幅值及第二幅值的匹配情况得到第一判断结果及第二判断结果，并计算第一探测信号与第二探测信号之间的第一时间差及第二时间差；据第一判断结果并统计第一时间差获得第一寿命图谱，据第二判断结果并统计第二时间差获得第二寿命图谱，将第一寿命图谱与第二寿命图谱叠加得到正电子湮没寿命谱。使用该方法提高探测信号的利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 正电子 湮没 寿命 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种正电子湮没寿命谱测量方法，其特征在于，包括：接收第一判选信号通过幅值判别得到第一起始信号，接收第二判选信号通过幅值判别得到第二起始信号；将所述第一起始信号与所述第二起始信号进行或运算生成触发信号；响应所述触发信号，在设定时间内接收第一探测信号和第二探测信号；判断所述第一探测信号的幅值以及所述第二探测信号的幅值与第一幅值以及第二幅值的匹配情况以得到第一判断结果以及第二判断结果，并计算所述第一探测信号与第二探测信号之间的第一时间差以及第二时间差；根据所述第一判断结果并统计所述第一时间差获得第一寿命图谱，根据所述第二判断结果并统计所述第二时间差获得第二寿命图谱，将所述第一寿命图谱与所述第二寿命图谱叠加，以得到正电子湮没寿命谱。
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