[发明专利]基于荧光寿命的薄膜材料热物性测量系统及方法有效
| 申请号： | 201711310944.9 | 申请日： | 2017-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN107907517B | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 岳亚楠;吴昊;熊扬恒 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 张火春 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于荧光寿命的薄膜材料热物性测量系统及方法，所述薄膜材料热物性测量系统包括探测光源、加热光源、光子探测器、时间相关单光子计数器和计算单元；探测光源用来照射薄膜样品以对薄膜样品进行荧光激发；加热光源用来照射薄膜样品以对薄膜样品进行瞬态加热；光子探测器用来探测荧光激发的荧光信号；时间相关单光子计数器与光子探测器信号连接，用来记录荧光激发的单光子信号；计算单元与时间相关单光子计数器信号连接，用来根据时间相关单光子计数器记录的单光子信号进行薄膜样品热物性计算。本发明简单易操作，测量方式灵活，灵敏度更高，可应用于生物、医学等领域，能在保证生物活性的同时，实现微小温度扰动下的热物性测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 荧光 寿命 薄膜 材料 物性 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
基于荧光寿命的薄膜材料热物性测量系统，其特征是：包括探测光源、加热光源、光子探测器、时间相关单光子计数器和计算单元；所述探测光源为窄脉宽、高重频的激光器，用来照射薄膜样品以对薄膜样品进行荧光激发；所述加热光源为可调制激光器，用来照射薄膜样品以对薄膜样品进行瞬态加热；所述光子探测器用来探测荧光激发的荧光信号；所述时间相关单光子计数器与所述光子探测器信号连接，用来记录荧光激发的单光子信号；所述计算单元与所述时间相关单光子计数器信号连接，用来根据所述时间相关单光子计数器记录的单光子信号进行薄膜样品热物性计算。
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