[发明专利]用于表征斑块的方法、分析设备和计算机断层摄影系统有效

专利信息
申请号: 201711311401.9 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN108209955B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: T·弗洛尔;B·施密特 申请(专利权)人: 西门子医疗有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;杜波
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及斑块的表征。描述了一种通过多个图像数据集(BDLE,BDHE)来表征检查对象(10)内的感兴趣区域中的斑块(LP,FP,CP)的方法。图像数据集(BDLE,BDHE)已经从多个投影数据集被重建,多个投影数据集已经使用不同X射线能谱通过CT设备(2)被获取。该方法包括以下步骤:获取包括多个像素的图像数据集(BDLE,BDHE)。使用至少两个图像数据集(BDLE,BDHE)逐像素地获取光谱参数值(SP1,SP2)。基于光谱参数值(SP1,SP2)逐像素地获取特征参数值(CP),用以表征斑块(LP,FP,CP)。本发明还涉及一种分析单元(25)和一种计算机断层摄影系统(1)。
搜索关键词: 用于 表征 方法 分析 设备 计算机 断层 摄影 系统
【主权项】:
1.一种通过多个图像数据集(BDLE,BDHE)来表征斑块(LP,FP,CP)的方法,所述斑块(LP,FP,CP)在一个检查对象(10)内的一个感兴趣区域中,所述多个图像数据集(BDLE,BDHE)已经从多个投影数据集被重建,所述多个投影数据集分别使用不同X射线能谱、通过一个CT设备(2)而被获取,所述方法至少包括以下多个步骤:‑获取(I)所述多个图像数据集(BDLE,BDHE),所述多个图像数据集(BDLE,BDHE)包括多个像素,‑使用至少两个图像数据集(BDLE,BDHE),逐像素地获取(II,II')多个光谱参数值(SP1,SP2),‑基于所述多个光谱参数值(SP1,SP2),逐像素地获取(III)多个特征参数值(CP),以表征所述多个斑块(LP,FP,CP)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子医疗有限公司,未经西门子医疗有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711311401.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top