[发明专利]用于表征斑块的方法、分析设备和计算机断层摄影系统有效
申请号: | 201711311401.9 | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN108209955B | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | T·弗洛尔;B·施密特 | 申请(专利权)人: | 西门子医疗有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;杜波 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明涉及斑块的表征。描述了一种通过多个图像数据集(BD |
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搜索关键词: | 用于 表征 方法 分析 设备 计算机 断层 摄影 系统 | ||
【主权项】:
1.一种通过多个图像数据集(BDLE,BDHE)来表征斑块(LP,FP,CP)的方法,所述斑块(LP,FP,CP)在一个检查对象(10)内的一个感兴趣区域中,所述多个图像数据集(BDLE,BDHE)已经从多个投影数据集被重建,所述多个投影数据集分别使用不同X射线能谱、通过一个CT设备(2)而被获取,所述方法至少包括以下多个步骤:‑获取(I)所述多个图像数据集(BDLE,BDHE),所述多个图像数据集(BDLE,BDHE)包括多个像素,‑使用至少两个图像数据集(BDLE,BDHE),逐像素地获取(II,II')多个光谱参数值(SP1,SP2),‑基于所述多个光谱参数值(SP1,SP2),逐像素地获取(III)多个特征参数值(CP),以表征所述多个斑块(LP,FP,CP)。
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