[发明专利]导电环跑合期的试验室测试方法

摘要

本发明涉及一种导电环跑合期的试验室测试方法，包括以下步骤：⑴.准备；⑵.跑合1；⑶.跑合2；⑷.跑合3；⑸.试验数据处理。本发明用于解决导电环跑合期的测试问题，根据理论计算，设计了一系列的测试方法及工装，解决了以往导电环跑合期长期无法测试的问题，具有重要的现实意义。

主权项

1.一种导电环跑和期的试验室测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

⑴.准备：

准备导电环样机，整机清洗后，将样机安装在测试工装上，并准备一台笔式记录仪，该笔式记录仪用于在后续的步骤中测试样机各环的接触电阻变化量；

⑵.跑和1：

将样机与笔式记录仪断开，将导线进行保护；启动测试工装，按照以下条件进行跑合：

a)转速：20转/分；

b)时间：1小时40分钟，1小时后反向转动；

完成2000转跑合后，使用笔式记录仪测试各个环路接触电阻变化量，并在电子显微镜下观测滑环磨损情况，拍照记录；将样机清洗后再次测试接触电阻，进行跑合前后接触电阻的对比，若接触电阻呈变小的趋势，说明接触表面状态已明显改善；

⑶.跑和2：

将样机安装在测试工装上，继续按照以下条件继续进行跑合：

a)转速：20转/分；

b)时间：1小时40分钟，1小时后反向转动；

继续完成2000转跑合后(累计共4000转)，使用笔式记录仪测试各个环路接触电阻变化量，并在电子显微镜下观测滑环磨损情况，拍照记录；将样机清洗后再次测试接触电阻，进行跑合前后接触电阻的对比，若接触电阻呈变小的趋势，说明接触表面状态已明显改善；

⑷.跑和3：

继续重复步骤⑶跑和2过程，直至接触电阻普遍出现稳定的状态时，结束跑和；

⑸.试验数据处理：

将多次测试接触电阻变化量数据整理，形成接触电阻变化量对比统计图，从图中可以找到接触电阻较平稳的拐点，并将达到该阻值所用的时间定为此导电环的跑和期。

2.根据权利要求1所述的一种导电环跑和期的试验室测试方法，其特征在于：所述的笔式记录仪为LR8100笔式记录仪。

3.根据权利要求1所述的一种导电环跑和期的试验室测试方法，其特征在于：所述的测试工装主要由电机、机箱、转子套筒、过渡板及拨叉组成，电机放置在机箱内，电机的电机轴连接转子套筒，该转子套筒竖直设置且位于机箱上表面的一端，在机箱上表面的另一端安装一个竖直的过渡板，该过渡板的上端设置一个水平的拨叉，该拨叉的后端与过渡板连接，该拨叉的前端位于转子套筒的上方且用于连接导电环的定子部分。