[发明专利]一种测量设备在审
申请号: | 201711324629.1 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN109915691A | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 张勇 | 申请(专利权)人: | 西安天恩电子科技有限公司 |
主分类号: | F16M5/00 | 分类号: | F16M5/00;G01C15/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 710000 陕西省西安市雁塔*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种测量设备,包括设备,所述设备的底端设有A衔接柄,所述A衔接柄为中空结构,所述A衔接柄内活动设有B衔接柄,且B衔接柄延伸至A衔接柄外,所述B衔接柄延伸至A衔接柄外的一端连接有输入口,所述A衔接柄上开设有中洞口,且中洞口的数量为五个,所述中洞口等间距开设于A衔接柄上,相邻的中洞口之间设有第一导轨,且第一导轨开设于A衔接柄上,所述B衔接柄靠近中洞口的一侧开设有固定下陷轨,所述固定下陷轨的内壁上设有可调伸缩端。本发明结构简单,操作方便,能够将设备固定在凹凸不平或者潮湿的地面上,测量精准错误率低,成本低,效率高。 | ||
搜索关键词: | 衔接 洞口 测量设备 下陷 导轨 凹凸不平 测量精准 一端连接 中空结构 错误率 伸缩端 输入口 底端 可调 内壁 延伸 潮湿 | ||
【主权项】:
1.一种测量设备,包括设备(1),其特征在于,所述设备(1)的底端设有A衔接柄(2),所述A衔接柄(2)为中空结构,所述A衔接柄(2)内活动设有B衔接柄(3),且B衔接柄(3)延伸至A衔接柄(2)外,所述B衔接柄(3)延伸至A衔接柄(2)外的一端连接有输入口(4),所述A衔接柄(2)上开设有中洞口(5),且中洞口(5)的数量为五个,所述中洞口(5)等间距开设于A衔接柄(2)上,相邻的中洞口(5)之间设有第一导轨(6),且第一导轨(6)开设于A衔接柄(2)上,所述B衔接柄(3)靠近中洞口(5)的一侧开设有固定下陷轨(7),所述固定下陷轨(7)的内壁上设有可调伸缩端(8),所述可调伸缩端(8)上设有限位杆(9),且限位杆(9)通过中洞口(5)延伸至A衔接柄(2)外,所述限位杆(9)活动设于中洞口(5)内,所述限位杆(9)远离可调伸缩端(8)的一侧设有吊环(10),且吊环(10)活动设于中洞口(5)和第一导轨(6)内,所述固定下陷轨(7)的内壁两侧对称开设有限位口(11),且限位杆(9)的两侧对称设有定位块(12),所述定位块(12)活动设于限位口(11)内。
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