[发明专利]基于SHPB的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法有效

专利信息
申请号: 201711327125.5 申请日: 2017-12-13
公开(公告)号: CN108195725B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 陈力;于潇;方秦;范益;姜锡权;陈大鹏 申请(专利权)人: 中国人民解放军陆军工程大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 吴茂杰
地址: 210007 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种基于SHPB的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法,包括如下步骤:(10)应力波加载:将待测颗粒物质试件置于分离式霍普金森压杆,记录射波、反射波、透射波;(20)前端峰值应力计算:计算得到试件前端峰值应力;(30)界面系数获取:拟合得到反射系数由试件所受应力表达的函数式,和透射系数由试件所受应力表达的函数式;(40)尾端峰值应力计算:根据透射波峰值应力和透射系数,计算得到试件尾端峰值应力;(50)消波率获取:根据试件尾端峰值应力和试件前端峰值应力,计算得到待测颗粒物质试件的消波率。本发明的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法,试验结果准确、试件长度可调、试验效率高。
搜索关键词: 基于 shpb 颗粒 物质 应力 衰减 效应 测定 方法
【主权项】:
1.一种基于SHPB的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法,其特征在于,包括如下步骤:(10)应力波加载:将待测颗粒物质试件置于分离式霍普金森压杆的试验位置,发射子弹,记录入射杆中的入射波、反射波和透射杆中的透射波;(20)前端峰值应力计算:根据由入射波、反射波得到的入射波峰值应力和反射波峰值应力,计算得到试件前端峰值应力;(30)界面系数获取:利用入射波和反射波,拟合得到入射杆‑试件界面处的反射系数由试件所受应力表达的函数式,并根据反射系数与试件‑透射杆界面处的透射系数的相互关系,得到试件‑透射杆界面的透射系数由试件所受应力表达的函数式;(40)尾端峰值应力计算:由透射波得到透射波峰值应力,根据透射波峰值应力和透射系数,计算得到试件尾端峰值应力;(50)消波率获取:根据试件尾端峰值应力和试件前端峰值应力,计算得到待测颗粒物质试件的消波率。
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