[发明专利]探索式手机BUG测试工艺在审
申请号: | 201711328069.7 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108052448A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 万众;涂哲军 | 申请(专利权)人: | 北京易诚高科科技发展有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;H04M1/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100035 北京市丰台*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种探索式手机BUG测试工艺,通过在BUG测试仪中建立以时间为节点相互平行的Log轴、Tag轴、截屏轴和动作轴,并在测试过程中分别将各种截屏图像和操作动作记录在该平行轴上,为后期不同阶段测试过程划分以及疑似BUG出现的等级划分提供了数据支撑,方便了后期分析、定位、复现疑似BUG,明显提高了测试效率和疑似BUG判断的准确性,实现了测试过程和疑似BUG修复过程的良性循环。操作人员测试过程清晰,后期疑似BUG定位准确、复现方便。其测试工艺改变了原有的测试工作模式,简化了操作和记录过程,测试质量明显提高。 | ||
搜索关键词: | 探索 手机 bug 测试 工艺 | ||
【主权项】:
1.探索式手机BUG测试工艺,其特征在于,具体步骤包括:步骤1、将待测手机跟单片机控制下的BUG测试仪信号连接;步骤2、操作人员针对待测手机执行测试任务,BUG测试仪对测试过程进行监控,存储测试过程中待测手机的截屏图像和操作动作,并分别记录在BUG测试仪内设置的以时间为X轴的截屏轴和动作轴上;步骤3、如操作人员发现有疑似BUG出现,操作人员点击BUG测试仪上的B键,BUG测试仪对其内部以时间为X轴的Tag轴进行字母B1标记,如有多次疑似BUG出现,则进行相应地多次B键点击并标记为B2…Bn,测试过程不断进行;如操作人员没有发现疑似BUG,测试过程继续;步骤4、操作人员在测试过程中改变思路,操作人员点击BUG测试仪上的L键,BUG测试仪对其内部以时间为X轴的Tag轴进行字母L1标记,如有多次测试思路改变,则进行相应地多次L键点击并标记L2…Ln;步骤5、当一个测试用例或一个需求用例测试完成时,手机BUG测试结束,BUG测试仪中存储并形成一个以时间为节点的Tag轴、截屏轴和动作轴三轴平行的测试记录。
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