[发明专利]基于SiOxNy的光读取神经突触器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201711335085.9 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN108110137B 公开(公告)日: 2019-10-08
发明(设计)人: 李伟;陈奕丞;李东阳;钟豪;顾德恩;蒋亚东 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;B82Y30/00
代理公司: 长沙楚为知识产权代理事务所(普通合伙) 43217 代理人: 李大为;陶祥琲
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种基于SiOxNy的光读取神经突触器件及其制备方法,包括表面等离子波导和忆阻器;表面等离子波导具有从上至下依次设置的第二金属层/SiNx介质层/第一金属层的垂直三层结构;忆阻器具有从上至下依次设置的上电极/第二阻变层/第一阻变层/下电极的垂直四层结构,所述忆阻器嵌入在表面等离子波导之中,所述第二阻变层和第一阻变层作为光信号传播通道,与表面等离子波导的SiNx介质层水平相连。本发明能实现神经突触权重的光读取,使得以光信号幅值和相位作为突触权重的光读取神经突触器件,具有以电阻作为突触权重的传统神经突触器件无法比拟的优势,而表面等离子波导能够使得光信号突破衍射极限进行传递,有利于器件尺寸进一步减小。
搜索关键词: 表面等离子波导 神经突 读取 阻变层 忆阻器 权重 从上至下 依次设置 介质层 突触 制备 垂直 第二金属层 第一金属层 光信号传播 三层结构 四层结构 衍射极限 电极 下电极 电阻 减小 嵌入 传递
【主权项】:
1.一种基于氮氧化硅的光读取神经突触器件,其特征在于,包括表面等离子波导和忆阻器;所述表面等离子波导具有从上至下依次设置的第二金属层、氮化硅 介质层、第一金属层的垂直三层结构;所述忆阻器具有从上至下依次设置的上电极、第二阻变层、第一阻变层、下电极的垂直四层结构;所述忆阻器嵌入在表面等离子波导之中,所述忆阻器的第一阻变层、第二阻变层作为光信号传播通道与表面等离子波导的氮化硅 介质层水平相连;所述基于氮氧化硅的光读取神经突触器件由如下方法制备:(1)准备硅单晶片,并进行清洗和干燥处理;(2)采用物理气相沉积方法,形成第一金属层;(3)在第一金属层所在的表面旋涂一层光刻胶,利用掩膜版和光刻、显影步骤,实现忆阻器窗口;采用等离子增强化学气相沉积方法,在已涂胶并图形化的第一金属层上,沉积氮化硅薄膜作为波导介质层;使用剥离工艺,获得位于第一金属层上方的波导介质层,并在其中预留忆阻器窗口;(4)利用光刻工艺在忆阻器区域之外形成光刻胶图案;依次沉积忆阻器下电极、第一阻变层、第二阻变层以及上电极4层薄膜,其中,下电极采用直流溅射方法获得;第一阻变层为氮氧化硅薄膜,采用反应磁控溅射方法获得;第二阻变层为含金属纳米颗粒的氮氧化硅薄膜,采用共溅射方法获得;上电极采用直流溅射方法获得;采用剥离工艺去除上述4层薄膜,获得位于表面等离子波导中的忆阻器;(5)在步骤(3)和(4)的基础上,采用金属剥离工艺,形成表面等离子波导的第二金属层;(6)采用普通反应离子刻蚀RIE工艺,去除残余光刻胶,清洗、干燥后即得。
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