[发明专利]一种扫描机构光路调试装置及调试方法

摘要

本发明提出一种扫描机构光路调试装置及调试方法，装置包括安装支架、调试转台、装夹机构、第一自准直仪A、第二自准直仪B、第三自准直仪C、平晶反射镜、双通道旋转变压器解读器及反射镜。其特征在于，该转台转轴与第一自准直仪A、B的光轴垂直，该第三自准直仪C的光轴经过反射镜后与转台转轴平行，形成以旋转转台轴线为基准的正交光学基准，该调试转台台面带有角度调节机构，可实现两个正交方向的角度微调，该调试转台带有双通道旋转变压器解读器，可实现转动角度的精确测量。采用本发明的调试装置及方法，能够分别调整扫描机构分光镜及固定反射镜的位置及角度，确保红外光路与扫描机构方位轴垂直度≤10″、激光光路与扫描机构方位轴垂直度≤10″。

主权项

1.一种扫描机构光路调试装置，其特征在于：包括安装支架、调试转台、装夹机构、第一自准直仪、第二自准直仪、第三自准直仪、平晶反射镜、双通道旋转变压器解读器及内反射镜；所述调试转台、第一自准直仪、第二自准直仪、第三自准直仪、内反射镜均安装在安装支架上，且第二自准直仪能够调节高度用于分别调试不同波段光路；所述调试转台台面带有角度调节机构，能够实现台面在方位方向和俯仰方向角度微调；所述调试转台上带有双通道旋转变压器解读器，能够实现转动角度的精确测量；所述调试转台的转轴与第一自准直仪以及第二自准直仪的光轴垂直，且第三自准直仪的光轴经过内反射镜后与调试转台的转轴平行；所述装夹机构安装在调试转台台面上；所述平晶反射镜能够反射面向下安装在扫描机构上。