[发明专利]一种眼晶体所受辐射剂量的仿真检测方法有效

专利信息
申请号: 201711335906.9 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN107992699B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 李德红;黄建微;郝艳梅;郭彬;吴琦 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 代理人: 李楠
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例涉及一种眼晶体所受辐射剂量的仿真检测方法,所述仿真检测方法包括:A、根据当前的待监测辐射场,在眼晶体剂量当量转换系数表中获取相应的眼晶体剂量当量转换系数;B、将内置于仿真模型内的电离室所在标准辐射场位置处的空气比释动能率除以测量电荷值,得到电离室刻度因子;C、将内置于仿真模型内的电离室放入所述待监测辐射场中,测量所述内置于仿真模型内的电离室在所述待监测辐射场中的电流或电荷值;D、基于步骤A至步骤C,将所述眼晶体剂量当量转换系数、所述电离室刻度因子和实测得到的电流或电荷值相乘,得到眼晶体剂量当量率。本发明,为眼晶体个人剂量当量的测量提供了更准确的数据,测量过程简单。
搜索关键词: 一种 晶体 辐射 剂量 仿真 检测 方法
【主权项】:
一种眼晶体所受辐射剂量的仿真检测方法,其特征在于,所述仿真检测方法包括以下步骤:步骤A、根据当前的待监测辐射场,在眼晶体剂量当量转换系数表中获取相应的眼晶体剂量当量转换系数;步骤B、将内置于仿真模型内的电离室所在标准辐射场位置处的空气比释动能率除以测量电荷值,得到电离室刻度因子;步骤C、将内置于仿真模型内的电离室放入所述待监测辐射场中,测量所述内置于仿真模型内的电离室在所述待监测辐射场中的电流或电荷值;步骤D、基于步骤A至步骤C,将所述眼晶体剂量当量转换系数、所述电离室刻度因子和实测得到的电流或电荷值相乘,得到眼晶体剂量当量率。
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