[发明专利]用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统

摘要

本发明属于光学测量技术领域，具体涉及一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，该系统包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板，所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上，所述抛物面的焦点处设置有探头组。本发明采用一个探头组直接对多个反射型散射板的漫反射光叠加信号进行测量，具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等，本发明显著简化了取样和测量光路，具有效率高、体积小、光路简单、能量损伤阈值高等优点。 1

主权项

1.一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板，所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上，所述抛物面的焦点处设置有探头组。

2.根据权利要求1所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元；两个能量测量单元分别用于进行长波能量测量和短波能量测量，两个时间测量单元分别用于进行长波时间测量和短波时间测量，两个光谱测量单元分别用于进行长波光谱测量和短波光谱测量。

3.根据权利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：所述能量测量单元包括沿光路方向依次设置的能量测量带通滤光片、能量测量可变光阑、能量测量聚光镜头和能量计。

4.根据权利要求3所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：在用于长波能量测量的能量测量单元中，能量测量带通滤光片的通光带宽为400‑700nm；在用于短波能量测量的能量测量单元中，能量测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。

5.根据权利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：所述时间测量单元包括沿光路方向依次设置的时间测量带通滤光片、时间测量耦合镜头和快光电管。

6.根据权利要求5所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：在用于长波时间测量的时间测量单元中，时间测量带通滤光片的通光带宽为400‑700nm；在用于短波时间测量的时间测量单元中，时间测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。

7.根据权利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：所述光谱测量单元包括沿光路方向依次设置的光谱测量带通滤光片、光谱测量光阑、光谱测量耦合镜头和多模光纤，所述多模光纤与光谱仪相连。

8.根据权利要求7所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：在用于长波光谱测量的光谱测量单元中，光谱测量带通滤光片的通光带宽为400‑700nm；在用于短波光谱测量的光谱测量单元中，光谱测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。

9.根据权利要求2‑8中任一所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：所述标定探头单元包括光电探头和可旋转保护盖板。

10.根据权利要求2‑8中任一所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：所述空间分布测量单元包括空间分布成像镜头和ICCD相机，所述空间分布成像镜头内设置有空间分布测量可变光阑。