[发明专利]基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统有效

专利信息
申请号: 201711343139.6 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN108168702B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 闫亚东;何俊华;许瑞华;齐文博;韦明智;吴冰静 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/44 分类号: G01J3/44;G01J3/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于光学测量技术领域,具体涉及一种基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,该系统包括离轴抛物面型散射板和位于离轴抛物面型散射板焦点处的探头组,所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元。本发明采用一个探头组直接对离轴抛物面型散射板的漫反射光进行测量,具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等,显著简化了取样和测量光路,克服了采用长焦聚焦镜的系统体积庞大的缺点,特别适合于多束激光合束打靶的情况,能够满足大规模激光驱动装置全孔径背向散射诊断的需求。
搜索关键词: 基于 散射 取样 孔径 背向 测量 系统
【主权项】:
1.一种基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:包括离轴抛物面型散射板和位于离轴抛物面型散射板焦点处的探头组,所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元;两个能量测量单元分别用于进行长波能量测量和短波能量测量,两个时间测量单元分别用于进行长波时间测量和短波时间测量,两个光谱测量单元分别用于进行长波光谱测量和短波光谱测量。

2.根据权利要求1所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述能量测量单元包括沿光路方向依次设置的能量测量带通滤光片、能量测量可变光阑、能量测量聚光镜头和能量计。

3.根据权利要求2所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:在用于长波能量测量的能量测量单元中,能量测量带通滤光片的通光带宽为400‑700nm;在用于短波能量测量的能量测量单元中,能量测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。

4.根据权利要求1所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述时间测量单元包括沿光路方向依次设置的时间测量带通滤光片、时间测量耦合镜头和快光电管。

5.根据权利要求4所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:在用于长波时间测量的时间测量单元中,时间测量带通滤光片的通光带宽为400‑700nm;在用于短波时间测量的时间测量单元中,时间测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。

6.根据权利要求1所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述光谱测量单元包括沿光路方向依次设置的光谱测量带通滤光片、光谱测量光阑、光谱测量耦合镜头和多模光纤,所述多模光纤与光谱仪相连。

7.根据权利要求6所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:在用于长波光谱测量的光谱测量单元中,光谱测量带通滤光片的通光带宽为400‑700nm;在用于短波光谱测量的光谱测量单元中,光谱测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。

8.根据权利要求1‑7中任一所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述标定探头单元包括光电探头和可旋转保护盖板。

9.根据权利要求1‑7中任一所述的基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述空间分布测量单元包括空间分布成像镜头和ICCD相机,所述空间分布成像镜头内设置有空间分布测量可变光阑。

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