[发明专利]X射线拍摄装置有效
申请号: | 201711343586.1 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108324294B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 竹之内忍;向吉涉;尾园弘和;柳田隼;二瓶光代 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 韩丁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供X射线拍摄装置。对X射线照射区域的4边之中位于阴极侧的边也精度良好地进行检测,并正确地检测X射线照射区域。提供X射线拍摄装置,具备:具有对被检体照射X射线的X射线管的X射线源;对从该X射线源照射到被检体的X射线照射区域进行限制的X射线光圈;检测经由该X射线光圈照射并透过所述被检体的X射线的X射线检测器;基于从该X射线检测器输出的电信号来生成X射线图像的图像处理部;对表示由该图像处理部生成的X射线图像中的X射线照射区域的4边之中位于所述X射线管的阴极侧的边的阴极位置信息进行检测的阴极检测部;和基于由所述阴极检测部得到的阴极位置信息来检测所述X射线图像中的X射线照射区域的照射区域检测部。 | ||
搜索关键词: | 射线 拍摄 装置 | ||
【主权项】:
1.一种X射线拍摄装置,具备:具有对被检体照射X射线的X射线管的X射线源;对从该X射线源照射到被检体的X射线照射区域进行限制的X射线光圈;检测经由该X射线光圈照射并透过所述被检体的X射线的X射线检测器;基于从该X射线检测器输出的电信号来生成X射线图像的图像处理部;对表示由该图像处理部生成的X射线图像中的X射线照射区域的4边之中位于所述X射线管的阴极侧的边的阴极位置信息进行检测的阴极检测部;和基于由所述阴极检测部得到的阴极位置信息来检测所述X射线图像中的X射线照射区域的照射区域检测部。
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