[发明专利]半导体结构及其制造方法有效
申请号: | 201711344639.1 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN109216428B | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 沈泽民;吴志强;吴忠政;蔡庆威;程冠伦;王志豪;曹敏 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/04 | 分类号: | H01L29/04;H01L29/10;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种半导体结构。该半导体结构包括:半导体衬底,具有第一区域和第二区域;第一半导体材料的第一鳍式有源区域,设置在第一区域内,定向为第一方向,其中,第一鳍式有源区域具有沿着第一方向的100晶体方向;以及第二半导体材料的第二鳍式有源区域,设置在第二区域内,并且定向为第一方向,其中,第二鳍式有源区域具有沿着第一方向的110晶体方向。本发明还提供了半导体结构的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:半导体衬底,具有第一区域和第二区域;第一半导体材料的第一鳍式有源区域,设置在所述第一区域内,定向为第一方向,其中,所述第一鳍式有源区域具有沿着所述第一方向的<100>晶体方向;以及第二半导体材料的第二鳍式有源区域,设置在所述第二区域内,并且定向为所述第一方向,其中,所述第二鳍式有源区域具有沿着所述第一方向的<110>晶体方向。
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