[发明专利]环栅纳米线场效应晶体管及其制备方法在审
申请号: | 201711346508.7 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108231584A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 张青竹;殷华湘;张兆浩;李俊杰;徐忍忍 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L29/775;H01L29/06 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 韩建伟;谢湘宁 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种环栅纳米线场效应晶体管及其制备方法。该制备方法包括以下步骤:S1,在衬底上形成鳍结构;S2,将鳍结构形成与衬底隔离的第一鳍体,第一鳍体由沿长度方向顺次连接的第一区域、第二区域和第三区域组成;S3,使第一鳍体中的第二区域完全裸露,在氢气氛围下对第二区域进行退火处理,以将部分第一鳍体形成纳米线结构;S4,绕纳米线结构的外周形成栅堆叠结构,以及,制备方法还包括以下步骤:在第一区域和第三区域中形成源/漏极,源/漏极与纳米线结构的两端连接。上述制备方法提高了器件的栅控能力,降低了器件的漏电流,减小了器件的源漏寄生电阻,且提高了器件可靠性。 | ||
搜索关键词: | 制备 鳍体 纳米线结构 第二区域 纳米线场效应晶体管 第一区域 源/漏极 鳍结构 衬底 环栅 器件可靠性 栅堆叠结构 寄生电阻 氢气氛围 顺次连接 退火处理 漏电流 减小 外周 源漏 裸露 隔离 | ||
【主权项】:
1.一种环栅纳米线场效应晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,在衬底(10)上形成鳍结构(110);S2,将所述鳍结构(110)形成与所述衬底(10)隔离的第一鳍体(111),所述第一鳍体(111)由沿长度方向顺次连接的第一区域、第二区域和第三区域组成;S3,使所述第一鳍体(111)中的所述第二区域完全裸露,在氢气氛围下对所述第二区域进行退火处理,以将部分所述第一鳍体(111)形成纳米线结构(120);S4,绕所述纳米线结构(120)的外周形成栅堆叠结构,以及,所述制备方法还包括以下步骤:在所述第一区域和所述第三区域中形成源/漏极,所述源/漏极(20)与所述纳米线结构(120)的两端连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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