[发明专利]用于诊断电气开关单元的磨损的方法和设备以及电气单元有效
| 申请号： | 201711347022.5 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108205075B | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | M.E.A.里米;J.德福奇;F.J.M.罗拉德 | 申请（专利权）人： | 施耐德电器工业公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/327;G01R31/333;G01R31/52;G06F15/00;H01H1/00;H01H47/00;H01H51/00;H01H51/04;H01H71/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 法国吕埃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于诊断电气开关单元的磨损状态的方法，包括电气单元监测阶段(15)。所述监测阶段使用：‑先前加载且代表电气单元的类型的学习数据，以及‑对应于待监测的所述单元且在初始化阶段中存储的初始化数据(CRP)。监测阶段(15)包括：‑测量(50)和获取在打开所述电气单元时的测量曲线(CM)，‑作为所述测量曲线的值、初始化数据以及学习数据(CRU)的函数，确定(51)所述测量曲线的局部描述符的值，‑确定(52)局部描述符值的定位，‑作为所述定位值的函数，确定(53‑55)整体状态等级。设备和电气单元实施该方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 诊断 电气 开关 单元 磨损 方法 设备 以及 | ||
【主权项】：
1.用于诊断电气开关单元的磨损状态的方法，包括所述电气单元的监测阶段(15)，其特征在于：‑所述监测阶段使用：‑先前加载且对应于代表所述电气单元的产品的类型的学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5、CRU)，以及‑对应于待监测的所述单元且在初始化阶段(14)中存储的初始化数据(CRP)，并且‑所述监测阶段(15)包括：‑测量(50)和获取在所述电气单元打开时的测量曲线(CM)，‑作为所述测量曲线(CM)的值、保存的初始化数据(CRP)以及加载的第一学习数据(CRU)的函数，确定(30、31、51)所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值，‑确定(52)测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值相对于第二学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5)的定位，‑作为所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值相对于所述第二学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5)的定位的值的函数，确定(32、53‑55)整体状态等级。
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