[发明专利]一种新型观测系统质量评价方法在审

专利信息
申请号: 201711347978.5 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN108169818A 公开(公告)日: 2018-06-15
发明(设计)人: 赵虎;尹成;张金淼;王建花;刘志鹏;李新月;罗莹莹 申请(专利权)人: 西南石油大学
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00;G01V1/20
代理公司: 北京中索知识产权代理有限公司 11640 代理人: 霍春月
地址: 610500 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开一种新型观测系统质量评价方法,包括以下步骤:对观测系统进行模拟放炮,获得观测系统的单个面元的炮检距及方位角分布情况;计算观测系统的最大覆盖次数和最大最小覆盖次数差值;计算炮检距非均匀性系数与炮检距参考非均匀性系的比值,最大和最小MaxOffsetCor的差值;方位角非均匀性系数与方位角参考非均匀性系数的比值,最大和最小MaxAimCor的差值;根据上述计算得到的各个数据计算观测系统的质量评价因子,并根据质量评价因子对观测系统进行评价。本方法综合了覆盖次数、宏观的方位角和炮检距分布、微观的炮检距非均匀性和微观的方位角非均匀性等属性,更加全面的对观测系统进行优劣评价。 1
搜索关键词: 观测系统 非均匀性 方位角 炮检距 质量评价 微观 计算观测 数据计算 优劣评价 最小覆盖 参考 覆盖 面元 宏观
【主权项】:
1.一种新型观测系统质量评价方法,其特征在于,包括以下步骤:

S10、对观测系统进行模拟放炮,获得观测系统的单个面元的炮检距及方位角分布情况;

S20、根据单个面元的炮检距及方位角分布情况获取观测系统覆盖次数分布情况并计算观测系统的最大覆盖次数和最大最小覆盖次数差值;

S30、根据单个面元的炮检距及方位角分布情况计算最大所占比率FMaxOcc、最大和最小FMaxOcc的差值;

S40、根据单个面元的炮检距分布情况获取单个面元的炮检距非均匀性分布情况,进而计算炮检距非均匀性系数与炮检距参考非均匀性系的比值MaxOffsetCor、最大和最小MaxOffsetCor的差值;

S50、根据单个面元的方位角分布情况获取单个面元的方位角距非均匀性分布情况,进而计算方位角非均匀性系数与方位角参考非均匀性系数的比值MaxAimCor,最大和最小MaxAimCor的差值;

S60、根据上述计算得到的各个数据计算观测系统的质量评价因子,并根据质量评价因子对观测系统进行评价。

2.根据权利要求1所述的一种新型观测系统质量评价方法,其特征在于,所述步骤S40的具体过程为:

S401、根据单个面元的炮检距分布情况获取单个面元的炮检距非均匀性分布情况;

S402、再通过下式计算得到单个面元的炮检距非均匀性系数OffsetCor:

Ki,i‑1=Xi+1‑Xi

式中:Xi为第i个炮检对,Xi+1为第i+1个炮检对,Ki,i‑1为相邻炮检对之间的实际差值,K0为相邻炮检对之间的理想差值,Xmax为最大炮检距,Xmin为最小炮检距,F3d为覆盖次数,N为炮检对个数;

S403、最后计算炮检距非均匀性系数与炮检距参考非均匀性系数的比值MaxOffsetCor、最大和最小MaxOffsetCor的差值,其中炮检距参考非均匀性系数为一个常数。

3.根据权利要求1或2所述的一种新型观测系统质量评价方法,其特征在于,所述步骤S50的具体过程为:

S501、根据单个面元的方位角分布情况获取单个面元的方位角非均匀性分布情况;

S502、再通过下式计算得到单个面元的方位角非均匀性系数AimCor:

θi,i‑1=θi+1‑θi

式中:θi为第i个方位角,θi+1为第i+1个方位角,θi,i‑1为相邻方位角之间的实际差值,θ0为相邻方位角之间的理想差值,N为炮检对个数;

S503、最后计算方位角非均匀性系数与方位角参考非均匀性系数的比值MaxAimCor,最大和最小MaxAimCor的差值,其中方位角参考非均匀性系数为一个常数。

4.根据权利要求1所述的一种新型观测系统质量评价方法,其特征在于,所述步骤S60中根据下式计算质量评价因子CDQF:

式中:NMaxFold为最大覆盖次数;VarNFold为最大最小覆盖次数差值;ReFold为参考覆盖次数,一个常数;FMaxOcc为最大所占比率;VarFOcc为最大和最小FMaxOcc的差值;MaxOffsetCor为炮检距非均匀性系数与炮检距参考非均匀性系数的比值;VarOffsetCor为最大和最小MaxOffsetCor的差值;MaxAimCor为方位角非均匀性系数与方位角参考非均匀性系数的比值;VarAimCor为最大和最小MaxAimCor的差值,k是为常数。

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