[发明专利]半导体功率器件、半导体功率器件的分压环结构及其制作方法在审
申请号: | 201711350262.0 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN108091686A | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 深圳市晶特智造科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06 |
代理公司: | 深圳市兰锋知识产权代理事务所(普通合伙) 44419 | 代理人: | 曹明兰 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体功率器件、半导体功率器件的分压环结构及其制作方法。所述分压环结构包括N型衬底、形成与所述N型衬底上的N型外延层、形成于所述N型外延层上的多条从内到外依序排列的分压环、形成于所述N型外延层上且连接于相邻两条分压环之间的N型深结、及形成于所述N型深结上且连接于相邻两条分压环之间的交替排列的P型浅结及N型浅结。 | ||
搜索关键词: | 分压环 半导体功率器件 衬底 浅结 交替排列 依序排列 制作 | ||
【主权项】:
1.一种半导体功率器件的分压环结构,其特征在于:所述分压环结构包括N型衬底、形成与所述N型衬底上的N型外延层、形成于所述N型外延层上的多条从内到外依序排列的分压环、形成于所述N型外延层上且连接于相邻两条分压环之间的N型深结、及形成于所述N型深结上且连接于相邻两条分压环之间的交替排列的P型浅结及N型浅结。
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