[发明专利]一种量子点表面配体覆盖率的测定方法有效
| 申请号： | 201711352950.0 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN109932267B | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 覃辉军;叶炜浩;杨一行 | 申请（专利权）人： | TCL科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 王永文;刘文求 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明提出一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，可用于对量子点的质量评定。若K |
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| 搜索关键词： | 一种 量子 表面 覆盖率 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，包括：提供样品颗粒，所述样品颗粒的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的的有机配体，所述的有机配体选自脂肪羧酸配体、含氮的有机配体、含磷的有机配体或含巯基的有机配体，所述有机配体相同或不同，当所述有机配体不同时，各所述有机配体之间的摩尔分子质量相差不超过5%；测定样品颗粒中颗粒的平均粒径；将所述颗粒与参比样置于热重分析仪中，在惰性气体条件下，根据所述样品颗粒在所述有机配体的挥发温度处出现的失重比例计算得到量子点表面配体含量，计算得到量子点表面配体覆盖率Ki。
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