[发明专利]集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统有效
| 申请号： | 201711353462.1 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN107861055B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 师谦;陈辉;肖庆中 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路动态输出性能测定方法，包括以下步骤：获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应；根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布；根据基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。上述的集成电路动态输出性能测定方法将根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到基准比较电压动态分布(即基准比较电压和错误率的关系)，根据基准比较电压动态分布可以得到集成电路的噪声容限、误码率等参数，测试结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 动态 输出 性能 测定 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种集成电路动态输出性能测定方法，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。
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