[发明专利]光学测量装置以及光学测量装置用适配器有效
| 申请号： | 201711360139.7 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108571926B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 保理江胜 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B9/00 | 分类号： | G01B9/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测量装置以及光学测量装置用适配器，用于在传感器头与控制器分离的光学测量装置中，方便地管理校准数据。光学测量装置包括：控制器，包含投光部、受光部及控制部；头部，包含光学系统与缆线；以及适配器，可电性或光学连接于头部的缆线及控制器地构成，且可装卸于缆线及控制器地构成。适配器包含ROM，所述ROM存储有用于对头部的测量值进行修正的校准数据。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 以及 适配器 | ||
【主权项】：
1.一种光学测量装置，其特征在于包括：控制器，包含产生照射光投至测量对象的投光部、接收来自所述测量对象的反射光的受光部、及基于所述受光部的受光量来算出测量值的控制部；传感器头，包含光学系统与缆线，所述光学系统用于将所述照射光投射至所述测量对象，且接收来自所述测量对象的所述反射光，所述缆线用于将来自所述控制器的所述投光部的所述照射光传递至所述光学系统，并且将所述反射光从所述光学系统传递至所述控制器的所述受光部；以及适配器，可电性或光学连接于所述传感器头的所述缆线及所述控制器地构成，且可装卸于所述缆线及所述控制器地构成，所述适配器包含存储器，所述存储器存储有用于对所述传感器头的测量值进行修正的校准数据。
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