[发明专利]位移测量装置在审
| 申请号： | 201711360394.1 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN108571936A | 公开（公告）日： | 2018-09-25 |
| 发明（设计）人： | 三浦佑太;菅孝博 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种位移测量装置，用以让用户容易识别包括不具有电子电路的传感器头的位移测量装置的测量状态。位移测量装置(1)包括：传感器头(30)，具有光学系统且不具有电子电路；控制器(100)；第1光纤维，将来自光投射部(10)的照射光传递至传感器头(30)；及第2光纤维，将来自传感器头(30)的反射光传递至控制器(100)。控制部(50)具有：第1模式，对传感器头(30)与反射位置之间的距离进行测量；及第2模式，通过光投射部(10)的光投射状态来表示传感器头(30)与反射位置之间的距离是否处于规定距离范围的中央部。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器头 位移测量装置 电子电路 反射位置 光投射部 控制器 光纤维 测量 光学系统 传递 反射光 光投射 照射光 中央部 | ||
【主权项】：
1.一种位移测量装置，其特征在于包括：传感器头，具有光学系统且不具有电子电路；控制器，其具有：光投射部，产生照射光；光接收部，接收由所述传感器头所接收的所述照射光的反射光；及控制部，基于所述光接收部的光接收量来算出所述传感器头与所述反射光的反射位置之间的距离；第1光纤维，将来自所述光投射部的所述照射光传递至所述传感器头；以及第2光纤维，将来自所述传感器头的所述反射光传递至所述控制器，所述控制部具有：第1模式，对所述传感器头与所述反射位置之间的距离进行测量；及第2模式，通过所述光投射部的光投射状态来表示所述传感器头与所述反射位置之间的所述距离是否处于规定距离范围的中央部。
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