[发明专利]一种数模转换器的熔丝修调测试方法在审
| 申请号： | 201711362385.6 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108155908A | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 刘丽娜 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 王倩 |
| 地址： | 110032 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种数模转换器的熔丝修调测试方法，电路初始状态(修调前)参数测试、修调点输出电压测试统计及修调码计算、熔丝烧写和修调后精度验证。低位精度测试、修调点输出电压测试统计及修调码计算。首先对低7位精度进行测试根据低位的精度结果判断该颗芯片是否为可修调芯片；如果低位满足精度要求，根据修调点输出电压测试的工作条件和时序特性，对测试电路的修调点进行电压采样，并计算平均输出电压，保证修调点输出电压的稳定性；根据修调点的输出电压采样结果完成修调码的计算。 | ||
| 搜索关键词： | 输出电压测试 低位 调码 熔丝 数模转换器 输出电压 测试 芯片 输出电压采样 参数测试 测试电路 电压采样 精度测试 精度结果 精度验证 精度要求 时序特性 烧写 电路 统计 保证 | ||
【主权项】：
一种数模转换器电路的熔丝修调测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1)测试电路开关单独开启时的芯片输出电压，记录为B0～B12；如果B1～B7分别与B0的差值小于设定电压值，那么该芯片符合熔丝修调条件，进行下一步骤；否则不满足修调条件，记为不合格芯片；2)将B8～B12与对应的理论值比较并计算差值，并求其最小值；以该最小值为基点，将其它各位与该基点进行差值计算，得到相对修调量；依据电路的后仿真结果对相对修调量进行编码，查找最接近上面计算的相对变化量对应的编码，定位需要修调的熔丝位置；根据待烧熔丝的位置，完成熔丝烧写工作。
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