[发明专利]跨尺度分辨率的光场图像超分辨率及深度估计方法及装置有效
申请号: | 201711362812.0 | 申请日: | 2017-12-18 |
公开(公告)号: | CN108053368B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 刘烨斌;赵漫丹;戴琼海 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40;G06T7/50;G06T5/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种跨尺度分辨率的光场图像超分辨率及深度估计方法及装置,其中,方法包括:通过单张图像超分辨率SISR方法进行上采样;将位于中间视角的高分辨率图像下采样后,利用SISR方法进行上采样,并获取误差图;获取视差图并利用光场固有属性对视差图进行全局优化,同时进行补洞操作,使得视差图估计无法估计到的区域进行重新估计;利用全局视差图对误差图进行传递,使得图像恢复高分辨率信息,以实现光场的超分辨率重建;根据超分辨率后的光场图像进行场景的深度估计,获取深度估计结果。该方法可以利用全局视差图对误差图进行传递,使得图像恢复高分辨率信息,以通过高分辨光场获取场景深度信息,并且提高鲁棒性,计算速度快。 | ||
搜索关键词: | 尺度 分辨率 图像 深度 估计 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种跨尺度分辨率的光场图像超分辨率及深度估计方法,其特征在于,包括以下步骤:通过单张图像超分辨率SISR方法对位于低分辨率视角的光场图像进行上采样;将位于中间视角的高分辨率图像下采样后,利用所述SISR方法进行上采样,并获取误差图;获取光场中所述高分辨率图像与上采样后的图像的视差图并利用光场固有属性对视差图进行全局优化,同时进行补洞操作,使得所述视差图估计无法估计到的区域进行重新估计;利用全局视差图对所述误差图进行传递,使得图像恢复高分辨率信息,以实现光场的超分辨率重建;以及根据所述超分辨率后的光场图像进行场景的深度估计,获取深度估计结果。
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