[发明专利]一种太阳能电池POE封装胶膜稳定性的测试方法有效
| 申请号： | 201711362872.2 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN109935529B | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 何帅;崔寅鑫;彭丽霞 | 申请（专利权）人： | 阿特斯阳光电力集团股份有限公司;常熟阿特斯阳光电力科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 215011 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种太阳能电池POE封装胶膜稳定性的测试方法，所述方法包括如下步骤：(1)将两层POE封装胶膜层压，得到测试样，记录测试样的长度L |
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| 搜索关键词： | 一种 太阳能电池 poe 封装 胶膜 稳定性 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种太阳能电池POE封装胶膜稳定性的测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)将POE封装胶膜层压，得到测试样，记录测试样的长度L1；(2)沿长度方向将测试样拉平并置于如下条件的密闭环境中，进行前处理：在‑40℃的温度下干冷48h；之后在105℃，湿度小于50％的环境下，干热测试200h；之后湿冻测试十个循环，循环条件一为85℃放置20小时，循环条件二为‑40℃放置30min；然后在‑40℃下干冷48h；然后湿冻测试十个循环，循环条件一为85℃放置20小时，循环条件二为‑40℃放置30min；(3)取出测试样，在105℃条件下，沿长度方向以设定拉伸荷载拉伸测试样，恢复形变，记录恢复形变后的长度L2；(4)当|L2‑L1|/L1≤预定形变率判定合格；当|L2‑L1||/L1＞预定形变率判定不合格。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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