[发明专利]光模块测试系统在审
| 申请号： | 201711363742.0 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN107835048A | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 吕斌;蒋昌明 | 申请（专利权）人： | 上海市共进通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;G01M11/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司31002 | 代理人： | 王洁,郑暄 |
| 地址： | 200235 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光模块测试系统，其中该系统包括至少两个待测光模块、第一分路器、第二分路器、单通道误码仪、OLT模块和至少两个光模块测试仪器，所述的至少两个待测光模块与所述的第一分路器相连接；所述的单通道误码仪分别与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器、所述的待测板、所述的OLT模块相连接。采用了该发明中的光模块测试系统，通过单通道误码仪代替现有技术中的双通道误码仪，节省了成本，同时在测试眼图、功率、以及灵敏度时不再需要插拔光纤，大大提高了效率，也减少了光纤的损耗，更重要的是可一次性测试多个模块，以及多个模块中的接收电眼图，相较于现有技术，安全而省电，具有更广泛的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种光模块测试系统，其特征在于，所述的系统包括至少两个待测光模块、第一分路器、第二分路器、单通道误码仪、OLT模块和至少两个光模块测试仪器；所述的至少两个待测光模块与所述的第一分路器相连接，且所述的至少两个待测光模块择一放置于一待测板上；所述的第一分路器与所述的第二分路器相连接，且所述的第一分路器与所述的至少两个待测光模块相连接；所述的第二分路器与所述的至少两个光模块测试仪器相连接；所述的单通道误码仪分别与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器、所述的待测板、所述的OLT模块相连接；所述的OLT模块与所述的至少两个光模块测试仪器相连接。
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