[发明专利]一种基于SVM的裂纹识别方法、设备及存储设备在审
| 申请号： | 201711364736.7 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN107977681A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 丁华锋;王静婷;张雄伟 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（武汉） |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 武汉知产时代知识产权代理有限公司42238 | 代理人： | 龚春来 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于SVM的裂纹识别方法、设备及存储设备，所述方法包括步骤读取图像像素点进行二值化处理后存储在文本中得到二值化处理后的样本；对二值化处理后的样本进行分组；采用分组后的每份样本做为测试集对SVM模型进行测试得到有效SVM模型；采用有效SVM模型对待处理图像进行识别将有裂纹图像和无裂纹图像进行区分。一种基于SVM的裂纹识别设备及存储设备，用来实现所述方法。本发明可以实时高效地获得裂纹的识别信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 svm 裂纹 识别 方法 设备 存储 | ||
【主权项】：
一种基于SVM的裂纹识别方法，所述方法由硬件设备实现，其特征在于：包括以下步骤：读取图像像素点进行二值化处理后存储在文本中得到二值化处理后的样本；对二值化处理后的样本进行分组；采用分组后的每份样本做为测试集对SVM模型进行测试得到有效SVM模型；采用有效SVM模型对待处理图像进行识别将有裂纹图像和无裂纹图像进行区分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学（武汉），未经中国地质大学（武汉）许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711364736.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
