[发明专利]仪器电控设备加速退化试验方法和系统有效
| 申请号： | 201711366755.3 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108399271B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 高军;唐翔;叶涛;卢家锋;文武 | 申请（专利权）人： | 广东科鉴检测工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/02;G06F119/04 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘艳丽 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广州高新技术*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种仪器电控设备加速退化试验方法，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 仪器 设备 加速 退化 试验 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东科鉴检测工程技术有限公司，未经广东科鉴检测工程技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711366755.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
